単結晶のWafer方位測定、オリフラ方位測定、ノッチ方位測定、インゴット端面方位測定など各種結晶方向測定装置の販売取扱を行っております。
基本、お客様の要望に対して個別に設計対応可能ですが、基本的な装置をご紹介します。
特徴は、中国製ですが、性能は、日本製と同等で、格安価格で提供出来ます。
基本的なメンテナンスは、日本国内で対応致します。
ご要望は、添付の資料にご記載の上、御見積依頼願います。
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ウエハー及びオリフラ・ノッチ測定用 DX-7ANG
本装置は両側測定台あり、一側はウエハ―のnotchを測定、反対側にインゴットとウエハ―の端面及び基準エッジを測定。
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インゴット端面測定用 DX-7DZ
高精度全自動シリコン単結晶X線結晶測定装置
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ウエハー・オリフラ・ノッチ・インゴット端面測定用 DX-7BG
単結晶のWafer及びIngotの結晶方位検査を目的別に行う検査装置です。
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フルオート・ウエハー・インゴット端面測定用 DXMS-ST
単結晶のWafer及びIngotの結晶方位検査を目的別にフルオートで行う検査装置です。
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ロッキングカーブ測定装置 DX-9BG
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Ｓｉウエハ 高速判別機
本装置は、簡易的に瞬時にＷａｆｅｒの結晶方向又は、ノッチ・オリフラの結晶方向を低コストで、測定出来る装置です。
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ウエハー受託測定
半導体Waferの結晶面方位の受託測定
Si, SiC, GaAs, GaN, InP, サファイアなどの単結晶ウエハーの結晶方位受託測定を行います。
測定料金は、測定内容毎に御見積させて頂きますので、ＷＥＢのお問い合わせよりお知らせください。