取扱商品紹介

X線結晶方位測定装置

単結晶のWafer方位測定、オリフラ方位測定、ノッチ方位測定、インゴット端面方位測定など各種結晶方向測定装置の販売取扱を行っております。
基本、お客様の要望に対して個別に設計対応可能ですが、基本的な装置をご紹介します。
特徴は、中国製ですが、性能は、日本製と同等で、格安価格で提供出来ます。
基本的なメンテナンスは、日本国内で対応致します。
ご要望は、添付の資料にご記載の上、御見積依頼願います。

ウエハー及びオリフラ・ノッチ測定用 DX-7ANG

本装置は両側測定台あり、一側はウエハ―のnotchを測定、反対側にインゴットとウエハ―の端面及び基準エッジを測定。

インゴット端面測定用 DX-7DZ

高精度全自動シリコン単結晶X線結晶測定装置

ウエハー・オリフラ・ノッチ・インゴット端面測定用 DX-7BG

単結晶のWafer及びIngotの結晶方位検査を目的別に行う検査装置です。

ロッキングカーブ測定装置 DX-9BG